La #CNEA despliega su poder con la oferta de la técnica de Espectrometría de Iones Secundarios.
En el corazón del Departamento de Caracterización de Materiales de la Gerencia de Investigación Aplicada de la #CNEA, destaca un asombroso espectrómetro de masas de iones secundarios detectados por tiempo de vuelo (TOF-SIMS), ¡único en Sudamérica y orgullosamente ubicado en el Centro Atómico Bariloche! 🏞️🔍
Esta tecnología de alta gama es la joya que nos permite desentrañar los secretos de una amplia gama de materiales, desde los metálicos hasta los biológicos, proporcionando información detallada sobre su composición atómica y química. 💼🔬 Su sensibilidad extrema nos permite detectar concentraciones de hasta partes por millón (ppm). ¡La ciencia en su máxima expresión! 🌐🌟
El TOF-SIMS, cual mago moderno, utiliza un haz de iones primarios para bombardear la superficie de la muestra, generando iones secundarios que revelan sus secretos a través del tiempo de vuelo. ⏱️👀 Este servicio de alto vuelo no solo está al alcance del organismo, sino que también se ofrece a la academia y al sector productivo, respaldado por profesionales altamente calificados. 💼👩🔬
La Dra. Laura Baqué, maestra de la ciencia, destaca: «Hemos analizado desde dispositivos semiconductores hasta meteoritos y muestras biológicas para investigar y desarrollar tratamientos médicos». 🌌💊
¡La ciencia argentina iluminando el camino!
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